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科創(chuàng)板再迎硬科技力量 高端測試儀器廠商蘇州聯(lián)訊儀器即將上會
2026-01-12 20:30:26
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海聯(lián)訊--
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中證報中證網(wǎng)訊(王珞)1月7日,上海證券交易所官網(wǎng)披露公告顯示,上交所上市委定于2026年1月14日召開2026年第1次上市審核委員會審議會議,審議的發(fā)行人是蘇州聯(lián)訊儀器(300277)股份有限公司(簡稱“聯(lián)訊儀器(300277)”)。

聯(lián)訊儀器(300277)披露的招股說明書(上會稿)顯示,公司是國內(nèi)領先的高端測試儀器設備企業(yè),主營業(yè)務為電子測量儀器和半導體(881121)測試設備的研發(fā)、制造、銷售及服務,專業(yè)為全球高速通信和半導體(881121)等領域用戶提供高速率、高精度、高效率的核心測試儀器設備,助力人工智能(885728)、新能源(850101)半導體(881121)等前沿科技行業(yè)提升產(chǎn)品開發(fā)和量產(chǎn)效率。此外,公司積極響應國家重大戰(zhàn)略需求號召,多次承擔國家重點研發(fā)計劃和國家重大專項,取得了國家級專精特新(885929)“小巨人”等多項榮譽,技術(shù)實力獲得主管部門和業(yè)內(nèi)廣泛認可。

公司電子測量儀器包括通信測試儀器和電性能測試儀器,通信測試儀器主要面向光通信測試,包括采樣示波器、時鐘恢復單元、誤碼分析儀等核心測試儀器;電性能測試儀器主要包括精密源表和低漏電開關矩陣,廣泛應用于通信和半導體(881121)等領域的高精度電學測試。半導體(881121)測試設備包括主要面向光通信測試的光電子器件測試設備(CoC光芯片老化測試系統(tǒng)、光芯片KGD分選測試系統(tǒng)、硅光晶圓測試系統(tǒng)等),主要面向功率器件測試的功率器件測試設備(晶圓級老化系統(tǒng)、功率芯片KGD分選測試系統(tǒng)等),以及主要面向半導體(881121)集成電路測試的電性能測試設備(WAT測試機和晶圓級可靠性測試系統(tǒng))。

本次IPO,聯(lián)訊儀器(300277)計劃募資17.11億元,投入下一代光通信測試設備研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化建設項目、車規(guī)芯片測試設備研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化建設項目、存儲測試設備研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化建設項目、數(shù)字測試儀器研發(fā)及產(chǎn)業(yè)化建設項目及下一代測試儀表設備研發(fā)中心建設項目。募投項目的實施,將助力公司在1.6T及以上高速光模塊測試儀器、車規(guī)級碳化硅功率器件測試設備、高速存儲芯片(886042)測試機等前沿領域持續(xù)突破,擴大產(chǎn)能規(guī)模,提升市場份額。

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